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可控硅综合参数测试仪

可控硅综合参数测试仪

二极管及可控硅/晶闸管(SCR)参数测试设备静态参数测试;动态参数测试;浪涌参数测试ITSM;di/dt测试;老化及可靠性测试(高温阻断);热阻参数测试Rth。产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势,将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。

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联系方式

  • 联系人:
  • 地   址:
    陕西 西安 长安区 沣东新城中兴深蓝科技产业园
是否进口:否品牌:智盈科技型号:DBC-112
加工定制:是适用范围:半导体器件测试电工电器设备名称:可控硅综合参数测试仪

二极管及可控硅/晶闸管(SCR)参数测试设备:

静态参数测试(包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL );动态参数测试(Turn_on&off / Qrr_FRD);浪涌参数测试ITSMdi/dt测试;老化及可靠性测试(高温阻断);热阻参数测试Rth

产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势,将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。

 


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